MTM 3D-SLIM 薄膜厚度測(cè)量選配件

零件代碼：PCS-002673

3D間隔成像（3D-SLIM）選項(xiàng)使用光學(xué)干涉術(shù)來測(cè)量樣品在測(cè)試過程中形成的亞微米添加劑膜。為了進(jìn)行測(cè)量，將鋼試驗(yàn)球裝在涂有鉻和二氧化硅層的玻璃盤上。接觸點(diǎn)由一個(gè)白色光源照亮，該光源沿著顯微鏡向下并穿過玻璃盤。

一部分光從光盤上的鉻層反射，另一部分穿過二氧化硅層和任何附加膜，并從鋼球反射回來。重組光路形成干涉圖像，該圖像聚焦在高分辨率RGB相機(jī)的成像器上。攝像機(jī)圖像由數(shù)字圖像采集卡捕獲，并可以由控制軟件進(jìn)行分析，以確定觸點(diǎn)的膜厚圖。

為了進(jìn)行測(cè)試，將鋼球放在鋼盤上，并在混合的滑動(dòng)/滾動(dòng)條件下運(yùn)行固定的時(shí)間。在整個(gè)測(cè)試過程中，定期將球停下，逆向加載到玻璃盤上，并獲取整個(gè)接觸區(qū)域的膜厚圖。這使得可以對(duì)形成的任何反應(yīng)膜進(jìn)行膜厚測(cè)量。當(dāng)與摩擦測(cè)量值結(jié)合使用時(shí)，這將提供在觸點(diǎn)中形成的膜的化學(xué)和物理作用的完整實(shí)時(shí)圖像。

MTM 3D-SLIM 薄膜厚度測(cè)量選配件

零件代碼：PCS-002673

3D間隔成像（3D-SLIM）選項(xiàng)使用光學(xué)干涉術(shù)來測(cè)量樣品在測(cè)試過程中形成的亞微米添加劑膜。為了進(jìn)行測(cè)量，將鋼試驗(yàn)球裝在涂有鉻和二氧化硅層的玻璃盤上。接觸點(diǎn)由一個(gè)白色光源照亮，該光源沿著顯微鏡向下并穿過玻璃盤。

一部分光從光盤上的鉻層反射，另一部分穿過二氧化硅層和任何附加膜，并從鋼球反射回來。重組光路形成干涉圖像，該圖像聚焦在高分辨率RGB相機(jī)的成像器上。攝像機(jī)圖像由數(shù)字圖像采集卡捕獲，并可以由控制軟件進(jìn)行分析，以確定觸點(diǎn)的膜厚圖。

為了進(jìn)行測(cè)試，將鋼球放在鋼盤上，并在混合的滑動(dòng)/滾動(dòng)條件下運(yùn)行固定的時(shí)間。在整個(gè)測(cè)試過程中，定期將球停下，逆向加載到玻璃盤上，并獲取整個(gè)接觸區(qū)域的膜厚圖。這使得可以對(duì)形成的任何反應(yīng)膜進(jìn)行膜厚測(cè)量。當(dāng)與摩擦測(cè)量值結(jié)合使用時(shí)，這將提供在觸點(diǎn)中形成的膜的化學(xué)和物理作用的完整實(shí)時(shí)圖像。